书目信息 |
| 题名： |
薄膜结构X射线表征
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| 作者： | 麦振洪 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2015.05 |
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| 页数： | 15,404页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 现代应用物理学丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TU330.1 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | X射线衍射分析--薄膜结构 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-044195-9 | |
| 000 | 00949oam2 2200289 450 | |
| 001 | 007355512 | |
| 005 | 20170418155049.23 | |
| 010 | @a978-7-03-044195-9@dCNY148.00 | |
| 100 | @a20150727d2015 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aa z 001yy | |
| 106 | @ar | |
| 200 | 1 | @a薄膜结构X射线表征@9bao mo jie gou Xshe xian biao zheng@f麦振洪等著 |
| 205 | @a2版 | |
| 210 | @a北京@c科学出版社@d2015.05 | |
| 215 | @a15,404页@c图@d24cm | |
| 225 | 2 | @a现代应用物理学丛书 |
| 300 | @a国家科学技术学术著作出版基金资助出版 | |
| 330 | @a本书系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例等内容。 | |
| 333 | @a薄膜研究人员 | |
| 461 | 0 | @12001 @a现代应用物理学丛书 |
| 606 | 0 | @aX射线衍射分析@x薄膜结构 |
| 690 | @aTU330.1@v5 | |
| 701 | 0 | @a麦振洪@9mai zhen hong@4著 |
| 801 | 0 | @aCN@b人天书店@c20150727 |
| 905 | @b987904-06@dTU330.1@e948=2@f3 | |
| 薄膜结构X射线表征/麦振洪等著.-2版.-北京：科学出版社，2015.05 |
| 15,404页：图；24cm.-(现代应用物理学丛书) |
| 国家科学技术学术著作出版基金资助出版.-使用对象：薄膜研究人员 |
| ISBN 978-7-03-044195-9：CNY148.00 |
| 本书系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例等内容。 |
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正题名：薄膜结构X射线表征
索取号：TU330.1/948=2
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